UVLED固化設備光強度測量問題分析
在使用UVLED固化設備時,許多客戶依賴于廠商標稱值作為光強度的參考標準。一些更詳細的客戶可能會購買專門用于測量和監視UVLED固化設備光強度的設備。然而,光強度的測量是一個常被忽略的復雜任務。
復坦希電子科技技術在產品開發、生產和實際應用過程中總結了對實際測試結果有影響的三個主要因素,供大家參考:
- 測量高度和范圍的影響 通過圖1可以更準確地說明UVLED芯片的測量結果與其位置之間的差異。從測量結果可以看出,UVLED芯片的光強度可達到70W/cm2;然而,在將包裝和石英玻璃分離后,在高度為5mm的位置測量時,光強度僅為4W/cm2。這種差異足以引起客戶的注意。因此,事先了解所謂的光強度測試高度是非常必要的。
- 測量工具(輻射計)的范圍和閾值 圖2取自復坦希電子科技點光源XP104的產品信息,清晰地說明了光強度不僅與測試高度有關,而且與測試位置也有很大關系。對于UVLED點光源而言,中心點的光強度**強,而向邊緣逐漸減小。面光源的情況類似,中間位置可能相對均勻,但是邊緣位置的光強度會降低。
- 測量工具之間的差異 不同測量工具之間存在一定的差異,這也會對光強度的測量結果產生影響。因此,在選擇測量工具時,需要考慮其范圍和閾值等因素。
復坦希電子科技技術,致力于提供可靠的數據、事實和技術,以滿足客戶對UVLED固化設備光強度的需求。我們考慮了許多因素,以確保為客戶提供**適合的產品。將這些細節交給我們,我們將憑借我們的技術專長為您的產品提供更好的支持。